G12B 仪器的零部件，或未列入其它类组的其它设备的类似零部件
附注
(1)本小类只包括不限定于计量仪器或列入单一类的任何其它设备的零部件。
(2)本小类不包括：
--A、F、G或H各部所含小类的零部件。特别是，由G01有关小类所包括的限于计量仪器的零部件，例如：G01D。
--限于电设备的结构零部件，例如：H05K或H部的有关小类所属的外壳、屏蔽等。
(3)应注意G部下面的附注，特别是G01中附注(2)关于“计量”的定义。
小类索引
产生运动或位移的传感元件：运动的零部件......1/00；3/00
位置或状态的调整；温度影响的补偿......5/00；7/00
外壳、支架；指示元件......9/00；11/00
校准......13/00
冷却；屏蔽......15/00；17/00
应用扫描探头技术的仪器零部件………21/00
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 1/00 不限定只用于计量能产生运动或位移的传感元件；及其相关的传动机构
 1/02 ·条或板的合成物，例如：双金属片
 1/04 ·在压力作用下有可变形或位移部件的空心件，例如：波登(Bourdou)管，波纹管(一般波纹管入F16J3/00)
 3/00 未列入其它组类的运动零部件(应用扫描探头技术的仪器零部件入21/00；一般减震或减冲击入F16F；避免不平衡的作用力入F16F15/00；平衡测试入G01M) 〔7〕
 3/02 ·运动件的锁定，即不使用时活动件的锁定
 3/04 ·悬置件(轴承入F16C)
 3/06 ·减少摩擦作用，例如：采用振动(采用润滑的入F16N)
 3/08 ·活动件的阻尼，例如：为促进快速的非振荡运动至一个最后的读数
 3/10 ··应用涡流作用的
 5/00 仪器或其它设备或其部件的位置或状态的调整，例如：水平调整(水准仪本身入G01C9/00)：倾斜或加速影响的补偿，例如：用于光学仪器的
 7/00 温度影响的补偿(用冷却方法的入15/00)
 9/00 仪器或其它设备的外壳或支架
 9/02 ·箱；外壳；柜(传动零件的密封装置列入F16J，具体的入F16J15/00)
 9/04 ··零件，例如：盖
 9/06 ···金属箱
 9/08 ·支架；携带用装置
 9/10 ··仪器板；面板；台；架；构架；
 11/00 指示元件；其照明
 11/02 ·刻度尺；分度盘
 11/04 ·指针及其调定机构
 13/00 仪器或设备的校准(计量仪器的校准入 G01)
 15/00 冷却(用致冷作用，例如：致冷流体的循环入F25D；具有一般用途的热交换或传热零部件入F28F)
 15/02 ·采用闭路循环的流体循环系统
 15/04 ·采用流体的流通，例如：开环中的空气
 15/06 ·采用吸热或辐射物质接触，例如：散热片
 17/00 屏蔽(建筑物的绝缘或其它保护入E04B；一般设备的紧急保护入F16P7/00；与声波有关的入G10K11/00；与核辐射有关的入G21F)
附注
本组包括：
--仪器或其它设备对来自外界的辐射或其它影响的防护；
--防止仪器或其它设备发射不需要的辐射或其它影响。
 17/02 ·对电场或磁场的防护，例如：无线电波
 17/04 ·对紫外线、可见光、红外线的防护(照明装置的屏蔽入F21V；滤光器入G02B5/20)
 17/06 ·对热的防护(17/04优先；冷却入15/00)
 17/08 ·对产生机械损伤影响的防护，例如：由冲击、外部物体、人所引起的(17/02至17/06优先)
 21/00 应用扫描探头技术的仪器零部件〔7〕
附注
（1） 本组中使用以下用词表示含义：
“探头”是指接口设备，例如具有尖端的针，当靠近一平面时，用于定义产生相互作用如产生隧道电流的转换面。〔7〕
（2） 注意大类B81及小类B81B类名（3） 后面与“微结构装置”及“微结构系统”有关的附注和小类B82B类名（4） 后面与“超微结构”有关的附注。〔7〕
（5） 下面是利用扫描探头技术的具体应用位置表：
B82B3/00 超微结构的制造或处理
C23C 金属材料的表面处理
G01B 尺寸的计量
G01N13/10 研究或分析原子范围上的表面结构
G11B9/12，
G11B11/24，
G11B13/08 记录或重现信息
H01J37/00 有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管
H01L 专门用于半导体或固态器件处理的方法或设备〔7〕

 21/02 ·探头〔7〕
 21/04 ··隧道效应探头〔7〕
 21/06 ··近场光学探头〔7〕
 21/08 ··原子力探头〔7〕
 21/10 ··磁力探头〔7〕
 21/12 ··静电力探头〔7〕
 21/20 ·扫描或定位装置〔7〕
 21/22 ··结构零部件〔7〕
 21/24 ··感应误差的温度或振动补偿〔7〕