G01T 核辐射或X射线辐射的测量(材料的辐射分析，质谱测定法入G01N；计数器本身入G06M，H03K；用于分析辐射或粒子的放电管入H01J40/00，47/00，49/00)
附注
(1)本小类包括X射线的辐射、γ射线辐射、微粒子辐射、宇宙线辐射或中子辐射的测量。
(2)注意G01类类名下面的附注。
----------
 1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量(3/00，5/00优先)〔2〕
 1/02 ·剂量计(1/15优先；X射线辐照时间测量入H05G1/28)〔2〕
 1/04 ··化学剂量计(1/06，1/08优先)
 1/06 ··玻璃剂量计
 1/08 ··照像剂量计(感光材料或照相工艺入G03C)
 1/10 ··发光剂量计
 1/105···读出装置(1/115优先)〔2〕
 1/11 ···热发光剂量计
 1/115····读出装置〔2〕
 1/12 ··量热剂量计
 1/14 ··静电剂量计(电离室的构造入H01J47/02)
 1/142···充电装置，读出装置〔2〕
 1/15 ·累积由辐射探测器产生的脉冲的仪器，例如：应用二极管泵激电路(一般脉冲频率计入G01R23/02)
 1/16 ·辐射强度测量(1/29优先)〔2〕
 1/161··在核医学领域的应用，例如：人体内的计数(放射性物质作用于人体入A61M36/00)〔2〕
 1/163···全身计数器〔2〕
 1/164···闪烁照相法(放射性同位素入G21G4/00；示踪剂入G21H5/00)〔2〕
 1/166····包括探测器和被测体之间的相对运动〔2〕
 1/167··测量物体放射性含量，例如：污染的测量(全身计数器入1/163)〔2〕
 1/169··污染的表面面积的探查和定位(利用核辐射、天然或感生的辐射进行勘探入G01V5/00)〔2〕
 1/17 ··专用型探测器以外的电路装置
 1/172···带符合电路装置的(1/178优先)〔2〕
 1/175···电源电路(变换器入H02M)〔2〕
 1/178···用于测量存在其它放射性物质中的比活度，例如：在空气中或液体中，如在雨水中天然比活度〔2〕
 1/18 ··用计数管装置，例如：用盖格(Geiger)计数器(计数管入H01J47/00)
 1/185··用电离室装置(电离室的构造入H01J47/02)〔2〕
 1/20 ··用闪烁探测器
 1/202···闪烁体是晶体的
 1/203···闪烁体是塑料的
 1/204···闪烁体是液体的
 1/205···闪烁体是气体的
 1/208···专用于闪烁探测器的电路，例如：用于光电倍增管部件〔2〕
 1/22 ··用塞伦科夫(Cerenkov)探测器
 1/24 ··用半导体探测器(半导体探测器本身入H01L31/00)
 1/26 ··用电阻探测器
 1/28 ··用二次发射探测器(一般二次电子发射电极入H01J1/32)
 1/29 ·对辐射束流的测量，例如：测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量(闪烁照相法入1/164)〔2，7〕
 1/30 ·测量放射性物质的半衰期
 1/32 ·测量粒子的极化
 1/34 ·测量截面，例如：测量粒子的吸收截面
 1/36 ·测量X射线或核辐射的能谱分布
 1/38 ··粒子甄别和相对质量的测量；例如：测量能量损耗与距离的关系(dE/dx)〔2〕
 1/40 ··能谱仪的稳定〔2〕
 3/00 中子辐射的测量(5/00优先)〔2〕
 3/02 ·用屏蔽其它辐射的方法
 3/04 ·用量热器
 3/06 ·用闪烁探测器〔2〕
 3/08 ·用半导体探测器(半导体探测器本身入H01L31/00)〔2〕
 5/00 粒子的运动或轨迹的记录(火花室入H01J47/00)；粒子轨迹的处理或分析〔2〕
 5/02 ·轨迹的处理；轨迹的分析
 5/04 ·云雾室，例如：威尔逊(Wilson)云室
 5/06 ·气泡室
 5/08 ·闪烁室(放电管入H01J40/00，47/00；半导体器件入H01L)
 5/10 ·板或块，其中通过处理后核粒子的轨迹成为可见的，例如：利用照相乳胶，利用云母
 5/12 ·具有多线室或平行板电离室的电路装置，例如：火花室(火花放电管本身入H01J47/00)〔2〕
 7/00 辐射计量仪器的附件
 7/02 ·用于接收或贮存被测试的样品的收集装置
 7/04 ··用过滤法
 7/06 ··用静电沉淀法(7/04优先)
 7/08 ·运送接收的样品的装置
 7/10 ··用转台
 7/12 ·备有报警动作的机构