G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法(光源入F21、H01J、K、H05B；用光学方法测试材料的性质入G01N)〔2，5〕
附注
(1)本小类包括未列入其它类组的关于红外光、可见光或紫外光存在与否的检测。
(2)应注意G01类类名下面的附注。
小类索引
光度测定法；高温测定法......1/00；5/00
光谱测定法；测量偏振；测量速度；测量相位；测量脉冲 3/00；4/00；7/00；9/00；11/00
----------
1/00 光度测定法，例如照像的曝光计(分光光度测定法入3/00；专用于辐射高温测定法的入5/00)
1/02 ·零部件
1/04 ··光学或机械部件
1/06 ···限制入射光的角度
1/08 ··专用于光度测定法的光源装置
1/10 ·采用与基准光或基准电参数相比较的方法
1/12 ··完全采用视觉的方法(1/20优先)
1/14 ···用与不同级别亮度的表面作比较的方法
1/16 ··采用电辐射检测器(1/20优先）
1/18 ···用与基准电参数作比较的方法
1/20 ··改变被测的或基准值的强度，使它们在检测器产生相等的效应，例如通过改变入射角
1/22 ···在光通路中应用可变元件，例如用滤光器、偏振装置(1/34优先)
1/24 ····采用电辐射检测器
1/26 ·····用于被测值或基准值的自动变化(光强度的调节入G05D25/00)
1/28 ···利用光源的强度或距离的改变(1/34优先)
1/30 ····采用电辐射检测器
1/32 ·····用于被测值或基准值的自动变化(光强度的调节入G05D25/00)
1/34 ···交替或依次地应用分开的光通路，例如：闪光器
1/36 ····采用电辐射检测器
1/38 ·完全用视觉的方法(1/10优先)
1/40 ··用可见度的极限或消光作用
1/42 ·采用电辐射检测器(光学或机械部件入1/04；与基准光或基准电参数作比较的入1/10)
1/44 ··电路
1/46 ···采用电容器的
1/48 ·利用化学效应
1/50 ··利用指示器的颜色变化，例如：感光计
1/52 ··利用照相效应
1/54 ··通过观察气体间的光反应
1/56 ·利用辐射压力或辐射计效应
1/58 ·利用光致发光
1/60 ·通过测量瞳孔的方法
3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕
3/02 ·零部件
3/04 ··狭缝装置
3/06 ··扫描装置
3/08 ··光束开关装置
3/10 ··专用于光谱学或色度学的光源装置
3/12 ·光谱的产生；单色器
3/14 ··用折射元件；例如：棱镜(3/18，3/26优先)
3/16 ···有自准直装置的
3/18 ··用衍射元件，例如光栅(光栅本身入G02B)
3/20 ···罗兰(Rowland)圆光谱仪
3/22 ···利特罗(Littrow)镜式光谱仪
3/24 ···采用外形对特定级有利的光栅
3/26 ··应用多次反射，例如：法布里珀罗(Fabry-perot)干涉仪，可变干涉滤光器
3/28 ·光谱测试(应用滤色器的入3/51)〔4〕
3/30 ··直接从光谱本身测量谱线强度(3/42，3/44优先)
3/32 ···利用单个检测器顺序地测试谱带
3/36 ···利用分开的检测器测试两个或更多的谱带
3/40 ··用测定光谱照片密度的方法测量谱线强度；摄谱仪(3/42，3/44优先)〔4〕
3/42 ··吸收光谱法，双束光谱法；闪烁光谱法；反射光谱法(光束开关装置入3/08)〔4〕
3/427···双波长光谱法〔4〕
3/433···调制光谱法；微分光谱法〔4〕
3/44 ··喇曼光谱法；散射光谱法〔4〕
3/443··发射光谱法〔4〕
3/447··偏振光谱法〔4〕
3/45 ··干涉光谱法〔4〕
3/453···利用振幅的相关性〔4〕
3/457··相关光谱法，例如强度的(3/453优先)〔4〕
3/46 ·颜色的测量；颜色测量装置，例如色度计(测量色温入5/06)〔4〕
3/50 ··用电辐射检测器〔4〕
3/51 ···用滤色器的〔4〕
3/52 ··用色图表
4/00 测量光的偏振(通过测量光的偏振面的旋转以测试或分析材料的入G01N21/21)〔2〕
4/02 ·分隔视场型的偏振计；半影式偏振计〔2〕
4/04 ·用电检测方法的偏振计(4/02优先)〔2〕
5/00 辐射高温测定法(一般光度测定法入1/00；一般光谱测定法入3/00)
5/02 ·零部件
5/04 ··壳体
5/06 ··消除干扰辐射影响的装置
5/08 ··光学特征
5/10 ·用电辐射检测器
5/12 ··用热电元件，例如：热电偶(热电元件本身入H01L35/00，37/00)
5/14 ···电学特征
5/16 ····与冷结有关的装置；环境温度或其它可变因素影响的补偿
5/18 ····专用于指示或记录的(一般测量值的指示或记录入G01D)
5/20 ··用对辐射敏感的电阻器，热敏电阻器或半导体
5/22 ···电学特征
5/24 ····采用专用电路，例如：桥路
5/26 ····专用于指示或记录的(一般测量值的指示或记录入G01D)
5/28 ··用光发射管，光导管或光伏特电池5/30 ···电学特征
5/32 ····专用于指示或记录的(一般测量值的指示或记录入G01D)
5/34 ··用电容器
5/36 ··利用气体的电离
5/38 ·利用固体或流体的延伸或膨胀
5/40 ··用双金属元件
5/42 ··用高利(Golay)电池
5/44 ··利用谐振频率的改变，例如：用压电晶体
5/46 ·利用辐射压力或辐射计效应
5/48 ·完全用视觉的方法
5/50 ·用下列各分组指明的技术
5/52 ··应用与参考源作比较的方法，例如：隐丝高温计
5/54 ···光学特征
5/56 ···电学特征
5/58 ··利用吸收；利用偏振；利用消光效应
5/60 ··利用测定色温度
5/62 ··利用斩光装置
7/00 测量光速
9/00 测量光学相位差(控制光束相位的设备或装置入G02F1/01)；测定相干性的程度；测量光学波长(光谱测定法入G02F3/00)〔3〕
9/02 ·采用干涉法(用干涉仪以光学方法测量物体的线性寸尺入G01B9/02)〔3〕
9/04 ·通过差拍同一光源但频率不同的两个波而测量所获得的较低频率的相位偏移〔3〕
11/00 测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性〔5〕